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歐美大地 工程物探
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高頻振動監(jiān)測加速度計選擇,MEMS or 線圈檢波器?
發(fā)布時間:2021-09-07 瀏覽次數(shù):133955 來源:歐美大地

微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)在工業(yè)建筑、爆破等眾多行業(yè)的振動監(jiān)測設(shè)備中大量使用。Instantel最近完成了大量的測試,將目前的MEMS加速度計與傳統(tǒng)的電磁線圈檢波器進(jìn)行了比較。


 爆破會產(chǎn)生高頻振動



振動校正誤差

Vibration Rectification Error (VRE)

在MEMS制造過程中不可避免的非線性和不對稱導(dǎo)致了一種現(xiàn)象,稱為振動校正誤差(VRE),如圖1所示。VRE在MEMS加速度計的輸出數(shù)據(jù)中產(chǎn)生一個非常低的頻率偏移(數(shù)據(jù)不再居中)。  當(dāng)更高頻率的均方根(RMS)包絡(luò)的振幅增加時,偏移的幅度也增加。 當(dāng)頻率和振幅內(nèi)容從一個位置和應(yīng)用到另一個位置和應(yīng)用時,VRE也會發(fā)生變化,使其不一致和不可預(yù)測。 加速度數(shù)據(jù)中的偏移都會在最終的速度信號中產(chǎn)生誤差。對于正偏移,這個誤差表現(xiàn)為漸增的斜率,對于負(fù)偏移,這個誤差表現(xiàn)為漸減的斜率。 由于大多數(shù)振動標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的是速度,這個誤差可能會對結(jié)果產(chǎn)生巨大的影響。 這可以在圖1中清楚地看到,其顯示由MEMS加速度計和電磁檢波器記錄的相同振動事件的結(jié)果。


圖1 與電磁檢波器記錄的相同振動事件相比,VRE對MEMS加速度計的速度結(jié)果有影響


測試結(jié)論

  • 在恢復(fù)之前,MEMS加速度計在各通道上都報告了振幅和無效數(shù)據(jù)。

  • 電磁檢波器記錄了信號數(shù)據(jù),沒有丟失數(shù)據(jù)。



高頻和MEMS性能限制

在工業(yè)和建筑應(yīng)用中的主要振動來源是重型設(shè)備,以及沖擊性工具,比如電鉆、打樁機(jī)、鋤頭和炸藥。 這些振動可以是單個的,也可以是頻率為幾kHz的一系列脈沖。與電磁檢波器相比,MEMS加速度計天然容易受到這些高頻信號的影響,并且會用錯誤的數(shù)據(jù)對其響應(yīng)。

500Hz以上的頻率超出了大多數(shù)振動標(biāo)準(zhǔn)的限制,應(yīng)該忽略,以防止它們對最終振動結(jié)果產(chǎn)生影響。電磁檢波器和標(biāo)準(zhǔn)濾波器設(shè)計可以輕松去除500+ Hz的信號。然而對于MEMS加速度計,高于監(jiān)測頻率的振動可能會引入干擾和測量誤差。其原因主要是由加速度轉(zhuǎn)換為速度幅值(積分),自諧振頻率和不恰當(dāng)?shù)臑V波器滾降,進(jìn)而衰減了高頻組分。有些誤差是MEMS加速度計內(nèi)部結(jié)構(gòu)固有的,因此是不可避免的。

這些高頻的振動會導(dǎo)致MEMS加速度計超出其工作限。當(dāng)這種情況發(fā)生時,它總是產(chǎn)生不可靠的數(shù)據(jù)。一旦振動回到MEMS加速度計的工作范圍內(nèi),由于監(jiān)測標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的濾波器特性,速度輸出需要幾秒鐘才能穩(wěn)定并恢復(fù)(見圖2a)。



不幸的是,在此期間所有MEMS數(shù)據(jù)都是無效的。由于來自電鉆、打樁、液壓錘、爆破等類似振動源的振動往往小于1 ~ 2秒,其振動數(shù)據(jù)的大部分可能報不準(zhǔn)確或漏報。為了在實(shí)驗(yàn)室中模擬如此高的頻率,我們將一個MEMS加速度計和一個電磁檢波器連接到一個預(yù)制混凝土模型上,并使用一個固定的錘擊夾具,以產(chǎn)生一個頻率可與基巖上的工業(yè)手提鉆或液壓錘相媲美的信號。圖2a顯示了超出MEMS振幅范圍的事件數(shù)據(jù)。MEMS加速度計需要4秒才能恢復(fù)。 在這4秒期間,數(shù)據(jù)被記錄了下來,但是是無效的。實(shí)際上相當(dāng)于丟失了4秒的事件數(shù)據(jù)。圖2b顯示了電磁檢波器記錄的相同的事件數(shù)據(jù),其準(zhǔn)確地記錄了整個事件時間段的事件數(shù)據(jù)。



測試結(jié)論

  • 基于MEMS的系統(tǒng)在恢復(fù)階段沒有準(zhǔn)確記錄振動波形和畸變數(shù)據(jù)。

  • 電磁檢波器在整個觀測窗口內(nèi)準(zhǔn)確記錄了振動波形,沒有丟失數(shù)據(jù)。


混疊

混疊是一種可能導(dǎo)致不同信號變得無法區(qū)分的現(xiàn)象。當(dāng)不需要的高頻信號扭曲了感興趣的頻率,干擾了采集數(shù)據(jù)時,就會發(fā)生混疊?;殳B尤其會發(fā)生在高頻信號采樣率不夠高時。在MEMS加速度計和電磁檢波器中都可能會發(fā)生混疊,然而對于相同的地面運(yùn)動,電磁線圈固有地在高頻下產(chǎn)生比MEMS更低的振幅。 這使得MEMS加速度計更容易受到高頻失真的影響,監(jiān)測設(shè)備的設(shè)計需要考慮到這一點(diǎn)。MEMS加速度計需要以更高的采樣率進(jìn)行采樣,以獲得與電磁檢波器相同的數(shù)據(jù)完整性。


噪聲和噪聲基底

噪聲基底是監(jiān)測振動信號的一個重要因素。它可以被描述為實(shí)際信號與無信號難以區(qū)分的值。MEMS加速度計的一個缺點(diǎn)是,由于質(zhì)量小,它們天生更容易受到內(nèi)部產(chǎn)生的噪聲的影響。另一個因素是MEMS加速度計是集成電子的有源元件,而電磁檢波器是無源元件。在實(shí)驗(yàn)室里,我們測量了一個MEMS的低頻成分,它在時域“漂移”。觀察標(biāo)準(zhǔn)差并求其均方根(RMS)水平,表明噪聲信號超過振動閾值的概率高得令人無法接受。這意味著當(dāng)需要低觸發(fā)水平時,由MEMS加速度計的固有設(shè)計產(chǎn)生的噪聲(它不是事件的真實(shí)組成部分)可以隨機(jī)產(chǎn)生誤觸發(fā)。電磁檢波器的設(shè)計大大降低了噪聲基底產(chǎn)生誤觸發(fā)的可能性。



執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)


振動監(jiān)測設(shè)備驗(yàn)證符合法規(guī)標(biāo)準(zhǔn)和振動限制。這些限制保護(hù)了人員、建筑和資產(chǎn)安全。準(zhǔn)確記錄和報告數(shù)據(jù)對承包商和業(yè)主來說都是重要的,以確保經(jīng)得起法律審查。

在大多數(shù)項(xiàng)目中,業(yè)主、設(shè)計師、市政部門等將指定要監(jiān)測的頻率范圍,振動限制不得超過。他們還將規(guī)定測量設(shè)備必須滿足的具體標(biāo)準(zhǔn)。其中兩個與設(shè)備性能相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)是國際炸藥工程師學(xué)會的爆破地震儀性能規(guī)范(ISEE-2017)和德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(DIN 45669)。宣布符合這些標(biāo)準(zhǔn)意味著該標(biāo)準(zhǔn)的所有方面,包括振幅范圍、頻率范圍、允許的大內(nèi)部噪聲、線性度、相位響應(yīng)和校準(zhǔn)要求都得到滿足。


例如,ISEE性能規(guī)范要求振幅范圍達(dá)到254mm/s,頻率響應(yīng)為2至250Hz。為了滿足ISEE的性能要求,這需要MEMS加速度計能夠可靠地測量高達(dá)40.7g的加速度。僅僅使用2、4或8g MEMS加速度計的振動監(jiān)測儀根本無法滿足ISEE的性能規(guī)范。


結(jié)論

我們的測試和分析表明,MEMS加速度計會產(chǎn)生與所記錄振動的頻率和振幅內(nèi)容直接相關(guān)的錯誤數(shù)據(jù)。

高頻會影響MEMS加速度計所報告的振動水平的準(zhǔn)確性。由于不可能預(yù)測項(xiàng)目將產(chǎn)生的準(zhǔn)確頻率和振幅內(nèi)容,因此這種不確定性會影響記錄數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和可靠性。我們在實(shí)驗(yàn)室觀察到當(dāng)使用MEMS加速度計時,高頻是數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確的一個重要影響因素。

雖然MEMS加速度計的安裝靈活性吸引了人們的注意,但在某些情況下,它們顯然不如電磁線圈檢波器可靠。我們認(rèn)為,這些好處不會比記錄不準(zhǔn)確或虛假數(shù)據(jù)的風(fēng)險更重要,而這些風(fēng)險可能導(dǎo)致罰款、項(xiàng)目延遲或關(guān)閉,或因不遵守振動標(biāo)準(zhǔn)或監(jiān)管限制而引發(fā)訴訟。


聲明

本文僅闡述了Instantel通過研究分析得出的觀點(diǎn),僅供參考,歡迎各位積極討論。

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